| Literatura uzupelniająca: |
1. C. Frąc, O sygnałach bez całek, Radmor, 2012,
2. J. Barzykowski (red.): Współczesna metrologia - wybrane zagadnienia, WNT 2004, rozdz. 7: W. Tlaga, W. Winiecki "Systemy Pomiarowe".
3. W. Winiecki: "Organizacja Komputerowych Systemów Pomiarowych", OWPW 2006.
4. T. Pavlidis, „Grafika i przetwarzanie obrazów. Algorytmy”, (Seria: Biblioteka Inzy-nierii Oprogramowania), WNT, Warszawa 1987.
5. R. Tadeusiewicz, Systemy wizyjne robotów przemysłowych, WNT, Warszawa 1992.
6. Raporty branżowe: Systemy Wizyjne http://systemy-wizyjne.raport.xtech.pl
|
| Literatura: |
1. W. Tlaga, W. Winiecki, Systemy pomiarowe, „Współczesna metrologia. Zagadnie-nia wybrane”, WNT 2004,
2. W. Nawrocki, Rozproszone systemy pomiarowe, WKiŁ, 2006,
3. T. Ulm, Structural Health Monitoring (SHM) A new interdisciplinary approach to damage detection in mechanical structures, Pomiary Automatyka Kontrola, nr 55 (9), ss. 703 – 706, 2009 (wersja w formacie pdf dostępna na stronie internetowej czasopisma - http://www.pak.info.pl/index.php?menu=artykulSzczegol&idArtykul=1344)
4. Raporty branżowe: Systemy Wizyjne http://systemy-wizyjne.raport.xtech.pl
5. R. Tadeusiewicz, P. Korohoda, Komputerowa analiza i przetwarzanie obrazów, Wydawnictwo Postępu Telekomunikacji, Kraków 1997, (książka w formacie pdf dostępna pod adresem http://winntbg.bg.agh.edu.pl/skrypty2/0098/index.php,
6. https://esezam.okno.pw.edu.pl/mod/book/view.php?id=8 (SYSTEMY POMIAROWE ANDRZEJ MAJKOWSKI, REMIGIUSZ RAK )
|
| Metody i kryteria oceniania: |
Ocena podstawie wyników testu na koniec zajęć
skala ocen:
[ do 50%] - 2.0
[51%, 60%] - 3.0
[61%, 70%] - 3.5
[71%, 80%] - 4.0
[81%, 90%] - 4.5
[91%, 100%] - 5.0.
|
| Zakres tematów: |
• Wstęp. Klasyfikacja systemów pomiarowych, pomiarowo-kontrolnych i wizyjnych; Podstawowe struktury rozproszonych systemów pomiarowych (RSP);
• Elementy przetwarzania, akwizycji i kondycjonowania sygnałów;
• Sensory pomiarowe, układy wielosensoryczne, sieci sensoryczne;
• Pomiarowe przyrządy autonomiczne i modułowe, karty generowania i akwizycji sygnałów, multipleksery, interfejsy pomiarowe;
• Przetwarzanie sygnałów, analiza i rozpoznawanie obrazów; zadania systemu wizyjnego, lokalizacja i rozpo-znawanie obiektów;
• Rozproszone systemy pomiarowe, wizyjne w monitorowaniu, kontroli jakości, sterowaniu zautomatyzowanych linii produkcyjnych.
• Wirtualne przyrządy pomiarowe, wprowadzenie do środowiska LabVew.
|
